Pellish, Jonathan A.: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (60)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

[IEEE 2017 IEEE Nuclear & Space Radiation Effects Conference (NSREC): Radiation Effects Data Workshop (REDW) - New Orleans, LA (2017.7.17-2017.7.21)] 2017 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) - Compendium of Current Single Event Effects Results from NASA Goddard Space Flight Center and NASA Electronic Parts and Packaging Program

O'Bryan, Martha V., LaBel, Kenneth A., Wilcox, Edward P., Chen, Dakai, Campola, Michael J., Casey, Megan C., Lauenstein, Jean Marie, Wyrwas, Edward J., Guertin, Steven M., Pellish, Jonathan A., Berg,

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 866 KB

english, 2017

2

[IEEE 2015 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) - Boston, MA, USA (2015.7.13-2015.7.17)] 2015 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) - Compendium of Current Total Ionizing Dose and Displacement Damage for Candidate Spacecraft Electronics for NASA

Campola, Michael J., Cochran, Donna J., Boutte, Alvin J., Chen, Dakai, Gigliuto, Robert A., LaBel, Kenneth A., Pellish, Jonathan A., Ladbury, Raymond L., Casey, Megan C., Wilcox, Edward P., O'Bryan, M

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 475 KB

english, 2015

3

Muon-Induced Single Event Upsets in Deep-Submicron Technology

Sierawski, Brian D., Mendenhall, Marcus H., Reed, Robert A., Clemens, Michael A., Weller, Robert A., Schrimpf, Ronald D., Blackmore, Ewart W., Trinczek, Michael, Hitti, Bassam, Pellish, Jonathan A., B

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 551 KB

english, 2010

4

[IEEE 2013 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with NSREC 2013) - San Francisco, CA, USA (2013.07.8-2013.07.12)] 2013 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) - Compendium of Recent Total Ionizing Dose and Displacement Damage for Candidate Spacecraft Electronics for NASA

Boutte, Alvin J., Cochran, Donna J., Chen, Dakai, Campola, Michael J., Pellish, Jonathan A., Ladbury, Raymond L., Wilcox, Edward P., Lauenstein, Jean-Marie, Gigliuto, Robert A., LaBel, Kenneth A., O'B

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 849 KB

english, 2013

5

Increased Rate of Multiple-Bit Upset From Neutrons at Large Angles of Incidence

Tipton, Alan D., Zhu, Xiaowei, Weng, Haixiao, Pellish, Jonathan A., Fleming, Patrick R., Schrimpf, Ronald D., Reed, Robert A., Weller, Robert A., Mendenhall, Marcus

Журнал:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 319 KB

english, 2008

6

Substrate Engineering Concepts to Mitigate Charge Collection in Deep Trench Isolation Technologies

Pellish, Jonathan A., Reed, Robert A., Schrimpf, Ronald D., Alles, Michael L., Varadharajaperumal, Muthubalan, Niu, Guofu, Sutton, Akil K., Diestelhorst, Ryan M., Espinel, Gustavo, Krithivasan, Ramkum

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 706 KB

english, 2006

7

The Effects of Angle of Incidence and Temperature on Latchup in 65 nm Technology

Hutson, John M., Pellish, Jonathan D., Boselli, Gianluca, Baumann, Robert, Reed, Robert A., Schrimpf, Ronald D., Weller, Robert A., Massengill, Lloyd W.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 890 KB

english, 2007

8

Proton-induced SEU in SiGe digital logic at cryogenic temperatures

Akil. K. Sutton, Kurt Moen, John D. Cressler, Martin A. Carts, Paul W. Marshall, Jonathan A. Pellish, Vishwa Ramachandran, Robert A. Reed, Michael L. Alles, Guofu Niu

Журнал:

Solid-State Electronics

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.56 MB

english, 2008

9

Applications of heavy ion microprobe for single event effects analysis

Robert A. Reed, Gyorgy Vizkelethy, Jonathan A. Pellish, Brian Sierawski, Kevin M. Warren, Mark Porter, Jeff Wilkinson, Paul W. Marshall, Guofu Niu, John D. Cressler, Ronald D. Schrimpf, Alan Tipton, R

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 300 KB

english, 2007

10

Multiple-Bit Upset in 130 nm CMOS Technology

Tipton, Alan D., Pellish, Jonathan A., Reed, Robert A., Schrimpf, Ronald D., Weller, Robert A., Mendenhall, Marcus H., Sierawski, Brian, Sutton, Akil K., Diestelhorst, Ryan M., Espinel, Gustavo

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 482 KB

english, 2006

11

The Susceptibility of 45 and 32 nm Bulk CMOS Latches to Low-Energy Protons

Pellish, Jonathan A., Marshall, Paul W., LaBel, Kenneth A., Seifert, Norbert, Gill, Balkaran

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 992 KB

english, 2011

12

[IEEE 2010 Radiation Effects Data Workshop - denver, CA, USA (2010.07.20-2010.07.23)] 2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop - Current Single Event Effects Compendium of Candidate Spacecraft Electronics for NASA

O'Bryan, Martha V., LaBel, Kenneth A., Pellish, Jonathan A., Chen, Dakai, Lauenstein, Jean-Marie, Marshall, Cheryl J., Ladbury, Ray L., Oldham, Timothy R., Kim, Hak S., Phan, Anthony M., Berg, Melanie

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.80 MB

english, 2010

13

[IEEE 2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop (in conjunction with NSREC 2011) - Las Vegas, NV, USA (2011.07.25-2011.07.29)] 2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop - Recent Single Event Effects Compendium of Candidate Electronics for NASA Space Systems

O'Bryan, Martha V., LaBel, Kenneth A., Pellish, Jonathan A., Lauenstein, Jean-Marie, Chen, Dakai, Marshall, Cheryl J., Oldham, Timothy R., Kim, Hak S., Phan, Anthony M., Berg, Melanie D., Campola, Mic

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.29 MB

english, 2010

14

Single-Event Upsets and Multiple-Bit Upsets on a 45 nm SOI SRAM

Heidel, David F., Marshall, Paul W., Pellish, Jonathan A., Rodbell, Kenneth P., LaBel, Kenneth A., Schwank, James R., Rauch, Stewart E., Hakey, Mark C., Berg, Melanie D., Castaneda, Carlos M., Dodd, P

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 660 KB

english, 2009

15

Hardness Assurance Testing for Proton Direct Ionization Effects

Schwank, James R., Shaneyfelt, Marty R., Ferlet-Cavrois, Véronique, Dodd, Paul E., Blackmore, Ewart W., Pellish, Jonathan A., Rodbell, Kenneth P., Heidel, David F., Marshall, Paul W., LaBel, Kenneth A

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 682 KB

english, 2012

16

[IEEE 2009 IEEE Radiation Effects Data Workshop (in Conjunction with NSREC 2009) - Quebec, Canada (2009.07.20-2009.07.24)] 2009 IEEE Radiation Effects Data Workshop - Single Event Effects Compendium of Candidate Spacecraft Electronics for NASA

O'Bryan, Martha V., LaBel, Kenneth A., Pellish, Jonathan A., Buchner, Stephen P., Ladbury, Ray L., Oldham, Timothy R., Kim, Hak S., Campola, Michael J., Lauenstein, Jean-Marie, Chen, Dakai, Berg, Mela

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 5.41 MB

english, 2009

17

[IEEE 2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop (in conjunction with NSREC 2012) - Miami, FL, USA (2012.07.16-2012.07.20)] 2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop - Compendium of Single Event Effects for Candidate Spacecraft Electronics for NASA

O'Bryan, Martha V., LaBel, Kenneth A., Pellish, Jonathan A., Lauenstein, Jean-Marie, Chen, Dakai, Marshall, Cheryl J., Casey, Megan C., Gigliuto, Robert A., Sanders, Anthony B., Oldham, Timothy R., Ki

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.32 MB

english, 2012

18

32 and 45 nm Radiation-Hardened-by-Design (RHBD) SOI Latches

Rodbell, Kenneth P., Heidel, David F., Pellish, Jonathan A., Marshall, Paul W., Tang, Henry H. K., Murray, Conal E., LaBel, Kenneth A., Gordon, Michael S., Stawiasz, Kevin G., Schwank, James R., Berg,

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.19 MB

english, 2011

19

Estimation of Heavy-Ion LET Thresholds in Advanced SOI IC Technologies From Two-Photon Absorption Laser Measurements

Schwank, James R., Shaneyfelt, Marty R., McMorrow, Dale, Ferlet-Cavrois, Véronique, Dodd, Paul, Heidel, David F., Marshall, Paul W., Pellish, Jonathan A., LaBel, Kenneth A., Rodbell, Kenneth P., Hakey

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 549 KB

english, 2010

20

Non-TMR SEU-Hardening Techniques for SiGe HBT Shift Registers and Clock Buffers

Wilcox, Edward P., Phillips, Stanley D., Cressler, John D., Marshall, Paul W., Carts, Martin A., Pellish, Jonathan A., Richmond, Larry, Mathes, William, Randall, Barbara, Post, Devon, Gilbert, Barry,

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 433 KB

english, 2010

21

[IEEE 2010 Radiation Effects Data Workshop - denver, CA, USA (2010.07.20-2010.07.23)] 2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop - Total Ionizing Dose and Displacement Damage Compendium of Candidate Spacecraft Electronics for NASA

Cochran, Donna J., Chen, Dakai, Oldham, Timothy R., Sanders, Anthony B., Kim, Hak S., Campola, Michael J., Buchner, Stephen P., LaBel, Kenneth A., Marshall, Cheryl J., Pellish, Jonathan A., Carts, Mar

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 267 KB

english, 2010

22

[IEEE 2010 Radiation Effects Data Workshop - denver, CA, USA (2010.07.20-2010.07.23)] 2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop - Radiation Performance of Commercial SiGe HBT BiCMOS High Speed Operational Amplifiers

Chen, Dakai, Pellish, Jonathan, Phan, Anthony, Kim, Hak, Burns, Sam, Albarian, Rafi, Holcombe, Bruce, Little, Bradley, Salzman, James, Marshall, Paul, LaBel, Kenneth

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 664 KB

english, 2010

23

[IEEE 2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop (in conjunction with NSREC 2012) - Miami, FL, USA (2012.07.16-2012.07.20)] 2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop - Compendium of Total Ionizing Dose and Displacement Damage for Candidate Spacecraft Electronics for NASA

Cochran, Donna J., Boutte, Alvin J., Chen, Dakai, Pellish, Jonathan A., Ladbury, Raymond L., Casey, Megan C., Campola, Michael J., Wilcox, Edward P., O'Bryan, Martha V., LaBel, Kenneth A., Lauenstein,

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 357 KB

english, 2012

24

A Generalized SiGe HBT Single-Event Effects Model for On-Orbit Event Rate Calculations

Pellish, Jonathan A., Reed, Robert A., Sutton, Akil K., Weller, Robert A., Carts, Martin A., Marshall, Paul W., Marshall, Cheryl J., Krithivasan, Ramkumar, Cressler, John D., Mendenhall, Marcus H., Sc

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 726 KB

english, 2007

25

IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference: Notes on the Early Conferences

Pellish, Jonathan A., Galloway, Kenneth F.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.55 MB

english, 2013

26

[IEEE 2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop (in conjunction with NSREC 2012) - Miami, FL, USA (2012.07.16-2012.07.20)] 2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop - A Comparison of High-Energy Electron and Cobalt-60 gamma-Ray Radiation Testing

Casey, Megan C., Boutte, Alvin J., Campola, Michael J., Carts, Martin A., Wilcox, Edward P., Marshall, Cheryl J., Phan, Anthony M., Pellish, Jonathan A., Powell, Wesley A., Xapsos, Michael A.

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 858 KB

english, 2012

27

Impact of Low-Energy Proton Induced Upsets on Test Methods and Rate Predictions

Sierawski, Brian D., Pellish, Jonathan A., Reed, Robert A., Schrimpf, Ronald D., Warren, Kevin M., Weller, Robert A., Mendenhall, Marcus H., Black, Jeffrey D., Tipton, Alan D., Xapsos, Michael A., Bau

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 870 KB

english, 2009

28

Single Event Induced Multiple Bit Errors and the Effects of Logic Masking

Berg, Melanie D., Kim, Hak S., Phan, Anthony D., Seidlick, Christina M., LaBel, Kenneth A., Pellish, Jonathan A.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.09 MB

english, 2013

29

Characterizing the Effects of Single Event Upsets on Synchronous Data Paths

Berg, Melanie, Friendlich, Mark, Kim, Hak, Seidlick, Christina, LaBel, Kenneth, Ladbury, Ray, Pellish, Jonathan

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.27 MB

english, 2013

30

[IEEE 2013 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with NSREC 2013) - San Francisco, CA, USA (2013.07.8-2013.07.12)] 2013 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) - VCSEL and Photodiode Proton Test Results for an Optical Communications Link

Rogacki, Steven A., Pellish, Jonathan A., Persyn, Steven, Marshall, Paul W., Stone, John

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 542 KB

english, 2013

31

Applications of Heavy Ion Microprobe for Single Event Effects Analysis

Reed, Robert A., Vizkelethy, Gyorgy, Pellish, Jonathan A., Sierawski, Brian, Warren, Kevin M., Porter, Mark, Wilkinson, Jeff, Marshall, Paul W., Niu, Guofu, Cressler, John D., Schrimpf, Ronald D., Tip

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 442 KB

english, 2007

32

[IEEE 2013 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with NSREC 2013) - San Francisco, CA, USA (2013.07.8-2013.07.12)] 2013 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) - Compendium of Recent Single Event Effects for Candidate Spacecraft Electronics for NASA

O'Bryan, Martha V., Chen, Dakai, Campola, Michael J., Casey, Megan C., Topper, Alyson D., LaBel, Kenneth A., Pellish, Jonathan A., Lauenstein, Jean-Marie, Gigliuto, Robert A., Wilcox, Edward P., Ladbu

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.07 MB

english, 2013

33

[IEEE 2007 International Semiconductor Device Research Symposium - College Park, MD, USA (2007.12.12-2007.12.14)] 2007 International Semiconductor Device Research Symposium - Proton-induced SEU in SiGe digital logic at cryogenic temperatures

Sutton, Akil. K., Cressler, John D., Carts, Martin A., Marshall, Paul W., Pellish, Jonathan A., Reed, Robert A., Alles, Michael L., Guofu Niu,

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 322 KB

english, 2007

34

[IEEE 2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) - Brugge, Belgium (2009.09.14-2009.09.18)] 2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems - Heavy ion testing at the galactic cosmic ray energy peak

Pellish, Jonathan A., Xapsos, Michael A., LaBel, Kenneth A., Marshall, Paul W., Heidel, David F., Rodbell, Kenneth P., Hakey, Mark C., Dodd, Paul E., Shaneyfelt, Marty R., Schwank, James R., Baumann,

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 153 KB

english, 2009

35

Heavy Ion Microbeam- and Broadbeam-Induced Transients in SiGe HBTs

Pellish, Jonathan A., Reed, Robert A., McMorrow, Dale, Vizkelethy, Gyorgy, Cavrois, Veronique Ferlet, Baggio, Jacques, Paillet, Philippe, Duhamel, Olivier, Moen, Kurt A., Phillips, Stanley D., Diestel

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 748 KB

english, 2009

36

Laser-Induced Current Transients in Silicon-Germanium HBTs

Pellish, Jonathan A., Reed, Robert A., McMorrow, Dale, Melinger, Joseph S., Jenkins, Phillip, Sutton, Akil K., Diestelhorst, Ryan M., Phillips, Stanley D., Cressler, John D., Pouget, Vincent, Pate, Ni

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 717 KB

english, 2008

37

Predicting Thermal Neutron-Induced Soft Errors in Static Memories Using TCAD and Physics-Based Monte Carlo Simulation Tools

Warren, Kevin M., Sierawski, Brian D., Weller, Robert A., Reed, Robert A., Mendenhall, Marcus H., Pellish, Jonathan A., Schrimpf, Ron D., Massengill, Lloyd W., Porter, Mark E., Wilkinson, Jeffrey D.

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 175 KB

english, 2007

38

[IEEE 2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) - Brugge, Belgium (2009.09.14-2009.09.18)] 2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems - Estimation of heavy-ion LET thresholds in advanced SOI IC technologies from two-photon absorption laser measurements

Schwank, James R., Shaneyfelt, Marty R., McMorrow, Dale, Ferlet-Cavrois, Veronique, Dodd, P. E., Heidel, David F., Marshall, Paul W., Pellish, Jonathan A., LaBel, Kenneth A., Rodbell, Kenneth P., Hake

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 879 KB

english, 2009

39

Device-Orientation Effects on Multiple-Bit Upset in 65 nm SRAMs

Tipton, Alan D., Pellish, Jonathan A., Hutson, John M., Baumann, Robert, Deng, Xiaowei, Marshall, Andrew, Xapsos, Michael A., Kim, Hak S., Friendlich, Mark R., Campola, Michael J., Seidleck, Christina

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 538 KB

english, 2008

40

[IEEE 2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) - Sevilla, Spain (2011.09.19-2011.09.23)] 2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems - Hardness assurance testing for proton direct ionization effects

Schwank, James R., Shaneyfelt, Marty R., Ferlet-Cavrois, Veronique, Dodd, Paul E., Blackmore, Ewart W., Pellish, Jonathan A., Rodbell, Kenneth P., Heidel, David F., Marshall, Paul W., LaBel, Kenneth A

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 869 KB

english, 2011

41

Assessing Alpha Particle-Induced Single Event Transient Vulnerability in a 90-nm CMOS Technology

Gadlage, Matthew J., Schrimpf, Ronald D., Narasimham, Balaji, Pellish, Jonathan A., Warren, Kevin M., Reed, Robert A., Weller, Robert A., Bhuva, Bharat L., Massengill, Lloyd W., Zhu, Xiaowei

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 325 KB

english, 2008

42

Design Implications of Single Event Transients in a Commercial 45 nm SOI Device Technology

Kleinosowski, AJ, Cannon, Ethan H., Pellish, Jonathan A., Oldiges, Phil, Wissel, Larry

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 492 KB

english, 2008

43

Reconciling 3-D Mixed-Mode Simulations and Measured Single-Event Transients in SiGe HBTs

Turowski, Marek, Pellish, Jonathan A., Moen, Kurt A., Raman, Ashok, Cressler, John D., Reed, Robert A., Niu, Guofu

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.37 MB

english, 2010

44

Heavy Ion Testing With Iron at 1 GeV/amu

Pellish, Jonathan A., Xapsos, Michael A., LaBel, Kenneth A., Marshall, Paul W., Heidel, David F., Rodbell, Kenneth P., Hakey, Mark C., Dodd, Paul E., Shaneyfelt, Marty R., Schwank, James R., Baumann,

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 603 KB

english, 2010

45

An Investigation of Dose Rate and Source Dependent Effects in 200 GHz SiGe HBTs

Sutton, Akil K., Gnana Prakash, A. P., Jun, Bongim, Zhao, Enhai, Bellini, Marco, Pellish, Jonathan, Diestelhorst, Ryan M., Carts, Martin A., Phan, Anthony, Ladbury, Ray, Cressler, John D., Marshall, P

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.46 MB

english, 2006

46

Single Event Upset Mechanisms for Low-Energy-Deposition Events in SiGe HBTs

Montes, Enrique J., Reed, Robert A., Pellish, Jonathan A., Alles, Michael L., Schrimpf, Ronald D., Weller, Robert A., Varadharajaperumal, Muthubalan, Niu, Guofu, Sutton, Akil K., Diestelhorst, Ryan, E

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 617 KB

english, 2008

47

[IEEE 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium - Garden Grove (Anaheim), CA, USA (2010.05.2-2010.05.6)] 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium - Practicality of evaluating soft errors in commercial sub-90 nm CMOS for space applications

Pellish, Jonathan A., LaBel, Kenneth A.

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 553 KB

english, 2010

48

Criticality of Low-Energy Protons in Single-Event Effects Testing of Highly-Scaled Technologies

Pellish, Jonathan A., Marshall, Paul W., Rodbell, Kenneth P., Gordon, Michael S., LaBel, Kenneth A., Schwank, James R., Dodds, Nathaniel A., Castaneda, Carlos M., Berg, Melanie D., Kim, Hak S., Phan,

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 755 KB

english, 2014

49

Impact of Spacecraft Shielding on Direct Ionization Soft Error Rates for Sub-130 nm Technologies

Pellish, Jonathan A., Xapsos, Michael A., Stauffer, Craig A., Jordan, Thomas M., Sanders, Anthony B., Ladbury, Raymond L., Oldham, Timothy R., Marshall, Paul W., Heidel, David F., Rodbell, Kenneth P.

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 784 KB

english, 2010

50

Comparison of Single and Two-Photon Absorption for Laser Characterization of Single-Event Upsets in SOI SRAMs

Schwank, James R., Shaneyfelt, Marty R., Dodd, Paul E., McMorrow, Dale, Warner, Jeffrey H., Ferlet-Cavrois, Véronique, Gouker, Pascale M., Melinger, Joseph S., Pellish, Jonathan A., Rodbell, Kenneth P

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 990 KB

english, 2011